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FOTRIC 280專家級(jí)科研熱像儀如何成芯片微觀分布檢測(cè)的新寵

時(shí)間:2024-12-13 17:24:56

  FFOTRIC 280專家級(jí)科研熱像儀支持拍攝后熱像圖與視頻在本機(jī)即時(shí)分析。檢測(cè)現(xiàn)場(chǎng)對(duì)拍攝的數(shù)據(jù)進(jìn)行專業(yè)分析,避免重復(fù)拍攝,方便快捷。支持高低溫自動(dòng)捕捉,本機(jī)最多可添加20個(gè)測(cè)溫點(diǎn)、20個(gè)測(cè)溫區(qū)域與20條測(cè)溫線同時(shí)測(cè)量。

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  FOTRIC 280系列熱像儀具有全輻射熱像視頻流輸出功能,實(shí)時(shí)傳輸每幀每個(gè)像素點(diǎn)的原始溫度數(shù)據(jù),配合PC端功能強(qiáng)大的FOTRIC AnalyzIR分析軟件記錄全輻射熱像視頻,視頻保存每一幀圖像每個(gè)像素點(diǎn)的溫度數(shù)據(jù),可以對(duì)目標(biāo)實(shí)現(xiàn)溫度趨勢(shì)分析。

  FOTRIC 280專家級(jí)科研熱像儀實(shí)例

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  ▲功率芯片溫度檢測(cè)

  圖片的LED功率型芯片小至1mm*1mm,由于芯片較小,接觸測(cè)量的話容易因接觸物而改變芯片自身溫度。熱像儀能精準(zhǔn)測(cè)溫嗎?當(dāng)然可以!

  OTRIC 280專家級(jí)科研熱像儀為非接觸測(cè)溫,支持20μm微距鏡,可直接對(duì)細(xì)小芯片進(jìn)行微米級(jí)的微觀溫度成像檢測(cè),發(fā)現(xiàn)過熱連接線和連接點(diǎn),改進(jìn)芯片設(shè)計(jì)。

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  熔斷測(cè)試

  貼片保險(xiǎn)的熔斷過程只有300ms左右,很難通過拍照捕捉到。

  OTRIC 280專家級(jí)科研熱像儀的全輻射熱像視頻錄制功能,可以實(shí)時(shí)記錄通電過程的溫度變化和分布情況,可隨時(shí)查看溫升曲線,還可以對(duì)視頻進(jìn)行后期的任意分析,便于發(fā)現(xiàn)問題,改善設(shè)計(jì)。

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  采集到的溫度數(shù)據(jù),如何有效分析?

  我們配合AnalyzIR軟件做分析時(shí)的3D溫差模式(ΔT),可以直觀觀測(cè)到設(shè)計(jì)溫度或理論值之外的異常熱分布,并提供趨勢(shì)圖、三維圖、數(shù)值矩陣等多種工具,有助于芯片的設(shè)計(jì)優(yōu)化。

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